近日，国外游戏圈知名作者“Damien Mcferran”在Twitter上发表内容，称其个人NS的头部出现了轻微的机身开裂现象。

Mcferran表示，自己对于NS的使用和保养谈不上“粗手粗脚”，因此他无法得知裂缝出现的原因。他在Twitter中质疑称，这是否会是出于本身的硬件设计制作问题（Is this a weak point of the design？）。

据悉，有类似反映的并不只有Mcferran一个，轻微的裂缝位置主要集中出现在机身的通风口和卡槽位置。

有国外舆论猜测称，NS可能存在电池使用时的机身发热问题，热量引发机身外壳膨胀，进而导致轻微的裂缝。

目前，人们尚无法确认此类开裂曝料是否确因机身本身设计问题，任天堂尚未公开做出任何回应。